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  • Park AFM
    Innovative Technology
 

True Sample Topography

Accurate Sample Topography Measured by Low Noise Z Detector

True Sample Topography™ without piezo creep error

저희의 AFM은 넓은 대역폭에 걸친 0.02nm의 노이즈로, 이 분야에서 가장 효과적인 저 노이즈 Z 검출기를 갖추고 있습니다. 이것은 매우 정확한 시료 표면 형상을 생산하며, 모서리 오버슛(Overshoot)과 교정의 필요성이 없습니다. 이는 Park Systems의 AFM이 당신의 시간을 절약해주며 더 나은 데이터를 제공해주는 많은 방법 중의 하나입니다.

  • 저 노이즈 Z 검출기로 시료 표면 형상 측정
  • 넓은 대역폭에 걸친 0.02nm의 낮은 Z 검출기
  • 모서리 오버슛이나 압전 크립 오차의 효과를 제거
  • 교정은 공장에서 오직 한번만 수행하면 된다

Park NX AFM

no-creep-effect

Conventional AFM

creep-effect
 

True Sample Topography