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  • Park-NX12
    Park
    NX12
    Atomic Force Microscope
    The most versatile AFM platform
    for your nanoscale microscopy needs

Park NX12

분석화학 연구자 및 공용 연구 시설들을 위한 다용도 현미경 플랫폼

  • 전기, 자기, 열 및 기계적 특성 측정 기능을 갖춘 나노 단위 해상도 이미징을 위한 원자 현미경
  • 고해상도 주사형 이온 전도 현미경 (SCIM), 주사형 전기 화학 현미경(SECM)을 위한 피펫(Pipette) 기반 스캐닝 시스템
  • 투명 소재 연구 및 형광 현미경 통합을 위한 광학 현미경(Inverted Optical Microscopy, IOM)

Brochures


광학 현미경(Inverted Optical Microscopy, IOM)에서 입증 된 NX10 성능

Park NX12는 Park AFM의 다양성과 정확성이 겸비된 샘플 스테이지에 IOM이 결합됩니다. 이것은 투명하거나 불투명한 혹은 부드럽거나 단단한 시료에서 전기 화학적 성질을 연구 할 수 있도록 합니다.

 

기초 전기 화학을 위한 완벽한 플랫폼

배터리, 연료 전지, 센서 및 부식의 전기 화학 연구는 급성장하고 있으나, AFM은 해당 분야에 아직 많은 부분을 다루지 않고 있는 것이 현실이다. Park NX12는 간단하고 사용하기 쉬운 플랫폼으로 화학 연구자가 필요로 하는 모든 도구의 기능성과 유연성을 제공 합니다. 포함 사항:

  • EC (전기화학)-AFM
  • 습도조절 옵션(Humidity control option)
  • 광학 현미경(Inverted Optical Microscopy, IOM)
  • 형광 현미경(Fluorescence microscopy integration)

 

연구원은 다양한 전기 화학적 연구 분야를 위해 NX12 플랫폼을 활용할 수 있습니다.

  • SICM-SECM (Scanning Ion Conductance Microscopy - Scanning ElectroChemical Microscopy)
  • AFM-SECM(Atomic Force Microscopy - Scanning ElectroChemical Microscopy)
  • SECCM (Scanning ElectroChemical Cell Microscopy)
  • EC-STM (scanning tunneling microscopy)

 

 

NX12-SICM-AFM-platform
nx12-platform

멀티유저 연구실(Multi-User Labs )을 위한 제작

Park NX12는 처음부터 멀티유저 연구실의 필요에 맞게 고안 되었습니다. 다른 AFM 솔루션들은 이러한 시설에서 사용자의 다양한 요구를 해결하기 위해 필요한 기능들이 부족할 뿐만 아니라 이를 해결 하기 위한 비용 조차 부담스러운 것이 사실입니다. 그러나 Park NX12는 평상시 표준 AFM 이미징 뿐만 아니라 액체 속에서의 SPM, 광학 및 나노광학 이미징을 수용할 수 있도록 제작되어 있어 가장 유연한 AFM중 하나 입니다.

 

공용 연구 시설 및 초기 연구자를 위한 모듈식 플랫폼

  Park NX12는 분석 및 전기 화학 연구자는 물론 공용 연구 시설에서 작업하는 사람들의 요구를 충족시키기 위해 특별히 제작된 원자력현미경 플랫폼입니다.

  The Park NX12는 광범위한 시각적 광학 접근이 가능한 피펫(Pipette) 기반 SPM 기술에 사용하기 쉽습니다.

  이것은 SPM을 기반으로 한 화학적, 전기화학적 특성에서 공기, 액체 상태 및 투명, 불투명한 물체의 표면특성 분석 등 다양한 연구 목적으로 개발 되었습니다.

  Park NX12는 합리적인 가격과 높은 정확도 덕분에 멀티 사용자 시설과 초기 연구자들에게 이상적인 플랫폼을 제공합니다.

modular_platform

 

다양한 응용 분야

Park NX12는 PinPoint ™ Liquid 및 Nanomechanical Mapping, 투명 샘플을 찾기 위한 IOM광학 현미경 검사, 초소형 샘플 이미지를 위한 SICM, 투명한 샘플의 광학을 개선하기 위한 비전 등을 포함한 다양한 기능이 가능 합니다.

 

NX12-SICM NX12-pinpoint

 

NX12-Modular

파크시스템스는 설치 후에도 옵션으로 제공되는 하드웨어 및 소프트웨어 애드온을 설치하여 NX12를 연구소만의 요구 사항에 맞게 쉽게 수정할 수 있습니다.

 

초기 연구자을 위한 합리적인 가격 및 유연성

초기 연구자들은 비싼 AFM solution을 구매하기에는 많이 부담이 되는 것이 사실입니다. Park NX12는 합리적인 가격에 구입이 가능하며 사용자의 경력과 더불어 성장할 수 있는 모듈 형 플랫폼을 제공합니다. 다른 AFM과는 달리 Park NX12는 투명, 불투명한 재료 모두에 대해 공기 및 액체에서 나노단위의 표면해상도를 제공할 수 있는 우수한 정확성과 기능성이 특징적입니다. 이를 통해 새로운 화학, 재료과학 또는 생화학 연구소의 투자 수익을 극대화 할 수 있습니다.


빠르고 간단한 스캐닝을 위한 SmartScan

Park NX12에는 SmartScan OS가 장착되어 있어 누구나 쉽게 다룰 수 있습니다. 직관적이지만 매우 강력한 인터페이스로 교육 받지 않은 사용자라도 전문 오퍼레이터 없이 샘플을 빠르게 스캔 할 수 있습니다. 이를 통해 선임연구원은 더 큰 문제를 해결하고 더 나은 솔루션을 개발하는데 자신의 경험을 잘 활용할 수 있습니다.

쉬운 사용법

연구실에는 서로 다른 수준의 지식과 경험을 가진 다양한 연구원들이 존재 합니다. NX12는 자동화 된 SmartScan™ 모드를 이용해 간단한 클릭만으로 모든 사용자를 수용할 수 있습니다.

 

NX12-Smartscan

 

고급기능, 합리적인 가격

NX12는 고가 솔루션에서만 찾을 수 있는 기능성과 정확성을 제공합니다.

  전동 모터 스테이지

완벽히 통합된 AFM광학 장치는 팁을 추적하여 사후 관리의 필요성을 최소화 합니다.

  SmartScan은 자동화 된 멀티 고품질 스캔을 매우 간결하게 실현합니다.

Park의 혁신적인 SmartScam 자동화를 통해 사용자는 버튼 클릭만으로 스캔을 수행할 수 있고 자동화 된 스크립트를 만들 수 있습니다. NX12는 또한 SCIM(Scanning Ion Conductance Microscopy)에서도 SmartScan을 제공합니다.

  광학 현미경(Inverted Optical Microscope, IOM)

NX12의 광학 현미경(Inverted Optical Microscope, IOM)은 사용자가 피펫(Pippte) 기반 기술을 쉽게 이용하고 투명한 샘플로 작업을 할 수 있도록 합니다.

  PinPoint™ Chemical (SECM)

TNX12의 PinPoint™ 모드를 통해 사용자는 고해상도 AFM팁으로 높은 정확도의 SECM (Scanning Electrochemical Microscopy)을 수행 할 수 있습니다.

  이중 퍼텐쇼스탯 (Bi-potentiostat) 호환성

STM, AFM, SICM간의 간단한 전환을 허용합니다.

  습도 및 온도 제어(Humidity and Temperature Control) 옵션

Park NX12는 측정하기 전과 측정하는 동안 습도와 온도를 제어 할 수 있는 기능이 있습니다.

  간편한 광학 접근

시스템은 다양한 각도에서 프로브(probe)에 대한 상부, 측면 및 하부 광 액세스가 가능합니다. 이 장치는 모듈 식 설계로 광학 또는 나노 광학 애드온(add-on) 장치를 추가 할 수 있습니다.

  종합적인 힘 분광(force spectroscopy) 분석 솔루션

Park NX12는 액상 및 공기 중의 나노 기계 특성화를 위한 완벽한 패키지를 제공하므로 광범위한 응용 분야에 이상적입니다.


Specifications

Scanner

XY scanner range: 100 μm × 100 μm
AFM head Z scanner range: 15 μm, 30 μm
SICM head Z scanner range: 15 μm, 30 μm

Electronics

ADC: 18 channels
4 high-speed ADC channels
24-bit ADCs for X, Y, and Z position sensor

DAC: 12 channels 2 high-speed DAC channels
20-bit DACs for X, Y, and Z positioning
3 channels of integrated lock-in amplifier

AFM/SPM Modes

Basic modes: True Non-contact™ mode, Tapping mode, and Phase imaging, Contact mode and LFM, PinPoint™ imaging, F/D spectroscopy, Force volume imaging, MFM, Enhanced EFM (Basic EFM, DC-EFM, PFM and SKPM), FMM, Nanoindentation

NX option modes: CP-AFM Options (Basic CP-AFM, ULCA, VECA, SSRM), High Voltage option, SCM, SThM, STM

Vision (AFM)

Direct on-axis vision of sample surface and cantilever Objective lens
Field-of-view: 480 × 360 μm (with 10× objective lens)
CCD: 1 Mpixel, 5 Mpixel(optional)

Objective lens
10x (0.21NA) ultra-long working distance lens (1 μm resolution)
20x (0.42 NA) high-resolution, long working distance lens (0.6 μm resolution) for 25 μm Z scanner head

Software - Park SmartScan™

AFM system control and data acquisition software
Auto mode, Manual mode
Batch mode for recipe-automated,
sequential multiple-site measurement AFM operation

Inverted Optical Microscopy

Objective lens: up to 100x
Fluorescence microscopy* (optional)
Confocal microscopy* (optional)

faraday-cage

Faraday cage

For stable SICM operation
The transparent conductive mesh blocks electric fields and shields external static or non-static electromagnetic field of 50/60 Hz


Park NX12