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  • Park
    XE15
    Power and versatility,
    brilliantly combined.

Increase your productivity with our powerfully versatile atomic force microscope

Park Systems의 XE15는 다양한 샘플을 다루고, 다중 실험을 하며, 웨이퍼의 고장분석을 다루는 다양한 사용자에게 적합한 독특한 기능들을 가지고 있습니다. XE15는 합리적인 가격과 튼튼한 구조가 장점인, 대형 샘플을 다루는 업계 최고의 AFM입니다.

 

Unique MultiSample™ scan boosts research productivity

다양한 샘플의 이미징과 측정을 한 번에 할 수 있는 AFM을 통해 효율성을 극대화시킬 수 있습니다. 이 기술은 샘플을 스테이지에 올려놓고 스캔 공정을 시작하는 것만으로 시행됩니다. 이 기술의 특징은 사용자로 하여금 동일한 환경 조건 하에서 데이터의 정확도와 신뢰도를 향상시키면서 샘플 스캔을 할 수 있게 합니다.

Large sample size increases possibilities

대부분의 다른AFM과는 다르게, Park Systems의 XE15는 최대 150mm x 150mm 크기의 샘플까지 스캔을 할 수 있습니다. 따라서 스테이지에 실리콘 웨이퍼를 배치해야 하는 엔지니어 혹은 큰 샘플의 스캔을 요하는 사용자에게 매우 적합한 AFM입니다.

Features adaptable to any need

XE15는 Park Systems의 가장 폭 넓은 스캔 모드를 탑재하였으며 다양한 사이즈를 갖는 샘플의 공정을 진행할 수 있습니다. 따라서 사용자들의 다양한 요구사항을 만족시킬 수 있습니다.

XE15-Overview