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  • Park
    XE7
    The most affordable research grade AFM
    with flexible sample handling

The economical choice for innovative research

Park Systems의 XE7은 최첨단 기술을 탑재한 합리적인 가격의 연구용 AFM입니다. Park Systems의 다른 혁신적인 제품라인과 마찬가지로, XE7은 사용자가 정해진 시간과 예산범위 안에서 연구를 성공적으로 진행할 수 있도록 설계되었습니다.

 

Uncompromised High Performance

Park Systems의 XE7은 같은 등급의 여타 제품들보다 높은 나노 스케일의 고해상도 측정이 가능합니다. 사용자는 XE7을 통하여 나노 구조의 샘플 이미지와 기기 특유의 측정결과를 획득할 수 있습니다. 이것은 AFM의 독립적인 XY및 Z 플랙셔 스캔을 기반으로 한 구조를 통해 평평하고, 직각이며, 그리고 직선인 스캔 측정 방법에 의해 가능합니다. 또한, Park Systems만의 독특한 완전 비접촉 모드TM 는 스캔의 횟수와 상관 없이 항상 높은 해상도의 이미지만을 제공할 것입니다.

For Current and Future Needs

사용자는 Park Systems의 XE7을 이용하여 현재와 미래에서 혁신을 일으킬 수 있습니다. XE7은 업계에서 가장 많은 측정 모드를 보유하고 있으며, 사용자는 각각의 필요에 따라 XE7의 해당 모드를 사용할 수 있습니다. 또한, XE7은 개가식으로 설계가 되어있기 때문에 사용자 고유의 연구 요구사항에 맞게 액세서리를 분리 및 결합할 수 있습니다.

Easy to Use and High Productivity

비록 초보 사용자라 할지라도 XE7의 그래픽 사용자 인터페이스와 자동화 툴을 이용하면, 샘플을 배치하는 것부터 스캔 결과를 얻는 것까지 신속하게 진행을 할 수 있습니다. 사전 정렬된 팁 장착부, 샘플과 팁의 손쉬운 교환, 간단한 레이저 정렬, 축 중심의 상의하달식인 광학적 관찰부터 사용자 친화적 스캔 제어와 소프트웨어 프로세싱까지, XE7은 AFM으로써 높은 생산성을 가지고 있습니다.

Economical Beyond the System Cost

Park Systems의 XE7은 가장 합리적인 가격의 연구용 AFM일뿐더러 총 소유비용에 있어서도 매우 경제적인 AFM입니다. XE7 에 탑재된 Park Systems의 완전 비접촉 모드TM는 탐침 팁에 사용되는 금액을 절감해줍니다. 또한, 업계에서 가장 광범위한 모드와 옵션과의 호환성을 통해 긴 제품 수명과 기기의 업그레이드를 보장합니다.

XE7-Overview